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一种UV减粘膜的扩膜性能的测试方法，属于半导体技术领域。UV减粘膜的扩膜性能的测试方法包括：在UV减粘膜上选取拉伸区域；沿第一预设方向，在拉伸区域上标记第一标点和第二标点；对拉伸区域进行周向的均匀拉伸，获得拉伸区域在拉伸前后，第一标点与第二...
该专利属于威士达半导体科技（张家港）有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过威士达半导体科技（张家港）有限公司授权不得商用。

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