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本发明涉及轮廓的计量技术领域，特别是涉及一种自动多重曝光方法。所述方法包括：S100，获取光条质量评价权重S；S200，获取max(S)对应的光条的平均亮度直方图H；S300，如果M=1，则将max(S)对应的光条中的所有列作为1类；如果M...
该专利属于宜科（天津）电子有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过宜科（天津）电子有限公司授权不得商用。

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