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本申请公开了一种量子位测量装置，包括第一存储模块，用于存储与待测量的量子位对应的测量波形和处理系数；其中，每个量子位均对应一个所述测量波形和一个处理系数；第二存储模块，用于存储所述测量波形和所述处理系数的时序参数；其中，所述时序参数与待测量...
该专利属于合肥本源量子计算科技有限责任公司所有，仅供学习研究参考，未经过合肥本源量子计算科技有限责任公司授权不得商用。

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