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本发明涉及一种荧光材料激发测量装置。包括暗箱，暗箱在与样品垂线夹４５度角的方向上设置一个环形光源或多个光源作为激发光源，工作试样盘和发射光接收装置；激发光源、样品和发射光接收装置构成ＣＩＥ?４５／０照明观测条件；利用光源与工作试样盘之间的可...
该专利属于杭州远方光电信息有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过杭州远方光电信息有限公司授权不得商用。

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