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接口测试方法、装置、电子设备和存储介质制造方法及图纸
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文档序号:37461246
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本发明提供一种接口测试方法、装置、电子设备和存储介质,该方法包括:根据待测试接口的标识信息,在预先构建的数据库中查找所述待测试接口的接口配置信息;根据所述处理器类型信息,适配所述处理器类型信息对应的处理器,用于所述处理器对所述待测试接口的前...
该专利属于海尔智家股份有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过海尔智家股份有限公司授权不得商用。
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