专利查询
首页
专利评估
登录
注册
当前位置:
首页
>
专利查询
>
中国科学院上海高等研究院
>
一种电光法测量束流到达时间的方法技术
>技术资料下载
下载一种电光法测量束流到达时间的方法的技术资料
文档序号:37454013
温馨提示:您尚未登录,请点
登陆
后下载,如果您还没有账户请点
注册
,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。
本发明提供一种电光法测量粒子加速器束流到达时间的方法,包括:确定满足到达时间测量分辨率的要求的腔式探头的腔体半径和腔长;根据腔体半径和腔长来制作腔式探头,并将其作为电信号拾取探头来搭建基于电光法的束流到达时间测量装置;利用束流到达时间测量装...
该专利属于中国科学院上海高等研究院所有,仅供学习研究参考,未经过中国科学院上海高等研究院授权不得商用。
详细技术文档下载地址
温馨提示:您尚未登录,请点
登陆
后下载,如果您还没有账户请点
注册
,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。