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本发明适用于半导体测试技术领域，提供了一种半导体测试治具，包括：基座、检测探针以及用于放置待检测半导体的支撑台，所述支撑台位于所述基座上；至少一组用于存放半导体的收纳盒，所述收纳盒位于所述基座上，且收纳盒内还开设有容纳槽；用于移动半导体的搬...
该专利属于广东中科启航技术有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过广东中科启航技术有限公司授权不得商用。

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