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本发明公开了一种颗粒粒度检测系统及方法，其包括光路单元、多微通道矩阵、线阵列传感器、比较计数电路和计算处理中心。微通道矩阵利用物理结构，将流入通道内的颗粒进行预分离；平行光穿过微通道后就照射在了线阵列传感器上，线阵列传感器将光信号变为电压信...
该专利属于中国西电电气股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过中国西电电气股份有限公司授权不得商用。

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