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一种用于检测x射线扫描射束的系统包括沿着x射线扫描轴线定向的一个或更多个闪烁体体积。闪烁体体积接收透射穿过目标的x射线并且产生闪烁光子作为响应。两个或更多个波长偏移光纤(WSF)带沿着轴线经由所述带关于轴线的空间周期性邻接而光学耦合至闪烁体...
该专利属于维肯检测公司所有，仅供学习研究参考，未经过维肯检测公司授权不得商用。

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