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本发明涉及一种微颗粒堆积厚度的表征方法及系统，所述方法，包括：通过脉冲激光分别辐照多个不同堆积厚度的微颗粒堆积物样品，获取每个微颗粒堆积物样品的激光等离子体的发射光谱数据；从发射光谱数据中选取比对特征参数，以微颗粒堆积物样品的堆积厚度数据和...
该专利属于中国科学院近代物理研究所所有，仅供学习研究参考，未经过中国科学院近代物理研究所授权不得商用。

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