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本发明公开了一种SMT元器件高度缺陷识别方法、系统及其可读介质，通过获取待测SMT电路板的三维点云模型图像，并通过ICP算法匹配查询SMT元器件在所述SMT电路板上的定位信息；根据所述定位信息在所述SMT元器件上设置多个识别区域，根据所述三...
该专利属于广州市柯洱斯电子有限责任公司所有，仅供学习研究参考，未经过广州市柯洱斯电子有限责任公司授权不得商用。

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