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本发明提供一种基于焊料层裂纹长度扩展的功率器件剩余寿命预测方法及系统，所述剩余寿命预测方法包括：建立有限元二维模型/有限元三维模型；将所述有限元二维模型/有限元三维模型中的芯片焊料层模型均分为K个单元格；依次执行第1老化阶段、第2老化阶段、...
该专利属于长沙半导体技术与应用创新研究院所有，仅供学习研究参考，未经过长沙半导体技术与应用创新研究院授权不得商用。

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