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本申请涉及一种电子设备测试方法及电子设备测试装置，其中电子设备测试方法包括：将电子设备放在电子检测设备内，电子设备至少包括第一光源和光源出口；堵住光源出口，检测光电二极管的第一电流；开启第一光源，采集第一光源的驱动电流，判断第一光源的驱动电...
该专利属于立讯智造（浙江）有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过立讯智造（浙江）有限公司授权不得商用。

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