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本申请实施例公开了一种缺陷分析方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质，该方法包括：获取目标面板的图像信息；根据图像信息确定目标面板中缺陷的位置；确定缺陷对应的目标缺陷类型；根据位置和目标缺陷类型，确定缺陷对目标面板的影响等级。采用本申请实...
该专利属于TCL科技集团股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过TCL科技集团股份有限公司授权不得商用。

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