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本发明涉及一种带电粒子CT成像的探测方法及系统。包括：获取带电粒子束的束流参数，并根据所述束流参数计算所述带电粒子束流出射的相对位置以及各个探测器的调节位置，所述探测器包括所述带电粒子束通过待测物之前的上游探测器以及通过所述待测物之后的数字...
该专利属于中国科学院近代物理研究所所有，仅供学习研究参考，未经过中国科学院近代物理研究所授权不得商用。

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