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本实用新型公开了一种用于半导体芯片测试的转塔式测试分选机，涉及芯片测试技术领域，解决了用于吸附芯片的吸附力检测耗时较长的问题，包括驱动轴和固定在驱动轴上的支架，还包括固定在驱动轴顶部的对接环和转动安装于支架顶部的调节环，对接环的外侧等角度固...
该专利属于浙江邦睿达科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过浙江邦睿达科技有限公司授权不得商用。

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