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本申请涉及一种基于响应模型的导引头抗干扰试验样本选取方法和装置。所述方法包括：通过对获取的初始试验数据中的性能指标数据和试验因子进行电磁效应机理分析，构建导引头抗干扰响应模型，并根据导引头抗干扰响应模型和试验样本选取目标构建试验样本选取优化...
该专利属于中国人民解放军国防科技大学所有，仅供学习研究参考，未经过中国人民解放军国防科技大学授权不得商用。

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