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一种用于对处于芯片固定空腔（１３）中的微电子芯片（２）精确定位以进行外观测试的设备（１２）。该芯片具有至少一前壁（５）和一对相对且隔开的侧壁（６，７），其中该前壁（５）与每个侧壁（６，７）相交，以形成相对且隔开的第一和第二前棱（８，９），该...
该专利属于电子科学工业公司所有，仅供学习研究参考，未经过电子科学工业公司授权不得商用。

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