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本发明提供了一种同轴微波测量探针，包括：探针支架、同轴电缆以及压片，探针支架的端部具有凹槽结构，同轴电缆位于探针支架内部并从探针支架的端部穿出，压片固定在探针支架的端部，并位于凹槽结构的开口处，压片和凹槽结构之间形成活动空间，同轴电缆的穿出...
该专利属于中电科思仪科技股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过中电科思仪科技股份有限公司授权不得商用。

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