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本实用新型公开了一种用于晶片电阻检测的定位装置，包括安装结构，所述安装结构包括外壳，所述外壳两侧的内部开设有滑槽，所述外壳顶部设置有视觉检测结构，升降转动结构，所述升降转动结构包括电动伸缩杆、所述电动伸缩杆固定连接于外壳的外壁，所述电动伸缩...
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