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本发明涉及集成电路技术领域，具体公开了一种采样保持电路、采样保持方法、装置及电流检测电路，其中，采样保持电路包括第一MOS管、第二MOS管、第三MOS管、第四MOS管、第五MOS管、第一开关管、第二开关管、第三开关管、第一电容及保持环路；该...
该专利属于成都博尔微晶科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过成都博尔微晶科技有限公司授权不得商用。

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