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本申请案是针对使用平均化参考电压的存储器单元感测。存储器装置可产生特定于操作条件或特性的所述平均化参考电压。所述平均化参考电压因此可跟踪单元使用和单元特性的变化。所述存储器装置可通过将参考节点短接在一起以确定与所述参考节点相关联的平均值，以...
该专利属于美光科技公司所有，仅供学习研究参考，未经过美光科技公司授权不得商用。

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