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本申请实施例公开一种高能粒子径迹探测装置及系统、以及探测方法。该高能粒子径迹探测装置，包括：层叠设置的多个探测层，每个所述探测层包括绑定基板和与所述绑定基板绑定的至少一个存储器芯片，其中，各所述探测层中的所述存储器芯片数量和尺寸相同，并且每...
该专利属于北京锐达芯集成电路设计有限责任公司所有，仅供学习研究参考，未经过北京锐达芯集成电路设计有限责任公司授权不得商用。

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