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本公开提供了一种电子产品的性能测试方法、装置、设备及存储介质，通过在待测机台经过功耗测试结束后，获取所述待测机台的实际功耗均值；根据所述待测机台的机型功耗设计值和所述实际功耗均值，判断所述待测机台是否满足最优合格条件；若所述待测机台不满足所...
该专利属于联宝（合肥）电子科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过联宝（合肥）电子科技有限公司授权不得商用。

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