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本发明涉及用于电容测量系统的非线性校准电路和方法，包括：初始电容、待测量电容、量化单元、电容补偿单元、比较器、计数单元、校准电容，其中，所述初始电容的第一端与量化单元连接，初始电容的第二端连接地，量化单元与比较器的第一输入端连接，比较器的输...
该专利属于思瑞浦微电子科技(苏州)股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过思瑞浦微电子科技(苏州)股份有限公司授权不得商用。

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