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本申请提供一种嵌入式芯片的自动检测方法及系统，自动检测方法应用于嵌入式芯片的自动检测系统中的主控检测模组，主控检测模组与控制模组相连接，主控检测模组与嵌入式芯片相连接，嵌入式芯片安装有运行状态测试程序，方法包括：主控检测模组接收控制模组发送...
该专利属于深圳市众鸿科技股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过深圳市众鸿科技股份有限公司授权不得商用。

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