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一种基于达曼光栅的全光场斯托克斯参数测量装置和方法，属于偏振测量领域。基于达曼光栅的全光场斯托克斯参数的测量方法所采用的测量，该装置包括：激光器，第一线偏振片，偏振器件，达曼光栅，第一透镜，第一半波片，第二半波片，第三半波片，四分之一波片，...
该专利属于中国科学院上海光学精密机械研究所所有，仅供学习研究参考，未经过中国科学院上海光学精密机械研究所授权不得商用。

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