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本申请公开了一种芯片测试装置和芯片测试系统，芯片测试装置包括壳体和均温板，均温板设于壳体内并将壳体内的空间分隔为第一空腔和第二空腔，第二空腔用于放置待测试芯片；均温板在所述壳体内的位置可调，使得可以根据待测试芯片的数量多少调节第二空腔的空间...
该专利属于西安紫光国芯半导体有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过西安紫光国芯半导体有限公司授权不得商用。

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