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一种半导体器件的ESD测试系统，包括静电发生组和被测管脚端，还包括测试电路，所述测试电路具有继电器和逻辑门电路，所述继电器的一触点端与所述静电发生组的静电释放端连接，另一触点端与所述被测管脚端连接，所述逻辑门电路与所述继电器的信号控制端电性...
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