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本发明公开了一种半导体器件及其制作方法,属于半导体技术领域。所述半导体器件包括:衬底;多个垂直沟道,设置在所述衬底上;多层栅极结构,堆叠在所述衬底上,且所述栅极结构环绕所述垂直沟道设置;多层源/漏连接层,堆叠在所述衬底上,所述源/漏连接层与...该专利属于合肥晶合集成电路股份有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过合肥晶合集成电路股份有限公司授权不得商用。
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本发明公开了一种半导体器件及其制作方法,属于半导体技术领域。所述半导体器件包括:衬底;多个垂直沟道,设置在所述衬底上;多层栅极结构,堆叠在所述衬底上,且所述栅极结构环绕所述垂直沟道设置;多层源/漏连接层,堆叠在所述衬底上,所述源/漏连接层与...