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本发明的目的在于提供一种低频微波电场作用下低损材料毫米波介电测试系统及方法，属于微波、毫米波介质材料测试技术领域。该测试系统结合了准光腔和矩形谐振腔，通过矩形谐振腔控制输入激励信号大小调整低损材料位置处的电场强度大小，以此来模拟外部环境；通...
该专利属于电子科技大学所有，仅供学习研究参考，未经过电子科技大学授权不得商用。

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