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本发明涉及视觉控制技术领域，具体公开了一种堆叠场景下的电子元器件抓取方法、装置、设备及介质，其中，抓取方法包括步骤：获取点云图和RGB图；利用实例检测模型分析RGB图以获取器件包络框信息和器件类型信息；基于器件类型信息调用器件模板获取抓取目...
该专利属于季华实验室所有，仅供学习研究参考，未经过季华实验室授权不得商用。

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