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本发明公开了基于偏振光成像的表面缺陷检测方法、设备及存储介质，方法包括：对通过偏振光成像获得的样本图像的脏污缺陷和损伤缺陷进行标注；通过标注后的样本图像对预设的待训练模型进行训练，得到缺陷预测模型；获取待测样品的偏振光图像；将偏振光图像输入...
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