温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。

本发明提供了一种高能宇宙射线探测用MCP寿命测试方法及系统，用于解决目前通过标记像增强器的输出亮度增益变化来评估MCP寿命的方法容易产生系统误差的技术问题。本发明的测试方法为：将电子阴极、待测MCP样品以及阳极板依次置于高真空管内，将可调光...
该专利属于中国科学院西安光学精密机械研究所所有，仅供学习研究参考，未经过中国科学院西安光学精密机械研究所授权不得商用。

详细技术文档下载地址

温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。