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本发明属于神经网络缺陷识别相关技术领域，其公开了一种小样本产品表面缺陷识别方法及系统，包括以下步骤：(1)基于图像金字塔构建小样本缺陷图像的空间多尺度特征提取器；(2)针对每个层级单独构建基于自注意力机制深度学习的缺陷识别模型；(3)将提取...
该专利属于华中科技大学所有，仅供学习研究参考，未经过华中科技大学授权不得商用。

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