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本发明涉及一种采用AI技术检测半导体产品质量的方法，包括以下步骤：步骤1：检测设备对待检测的半导体产品进行检测，并将检测的后的结果显示在显示器上；步骤2：采用人工的方式对步骤1检测的半导体产品再次进行检测，由人工进行判断对检测设备检测的产品...
该专利属于昆山冠天智能科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过昆山冠天智能科技有限公司授权不得商用。

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