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本发明提供一种环行组件射频链路匹配性能测试方法和系统，用以检测微波器件(集成器件)与环行组件集成后射频链路匹配性能。在微波器件与环行组件集成后，电路无需引出其他射频接口，仅通过对环行组件集成前后S参数测试结果，进行矢量综合，即可得到集成后链...
该专利属于中国航空工业集团公司雷华电子技术研究所所有，仅供学习研究参考，未经过中国航空工业集团公司雷华电子技术研究所授权不得商用。

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