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本发明的一方面涉及用于检测在微控制器上的异常的学习过程，该微控制器包括存储器，存储器存储了预限定数目的类别并且从传感器接收多变量集合，方法包括以下步骤：针对数据集合的组计算平均值和协方差矩阵；如果协方差矩阵状态较差，则：将数据集合添加到一组...
该专利属于卡迪赛姆公司所有，仅供学习研究参考，未经过卡迪赛姆公司授权不得商用。

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