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本发明涉及晶体生长识别技术领域，具体为一种晶体生长过程中籽晶单晶线棱角的识别检测方法，包括构建高质量数据集、构建人工智能算法模型、模型训练以及模型评估验证四个步骤，本发明克服人工判断引晶工序开始时机的不足，提供一种自动化判断引晶时机的方法，...
该专利属于保定景欣电气有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过保定景欣电气有限公司授权不得商用。

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