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本发明公开了一种表面缺陷数据合成与评估方法及电子设备、储存介质。该方法利用工业产品缺陷的源数据，对数据生成模型进行训练，并得到合成的缺陷生成数据；将所述合成的缺陷生成数据输入到综合性能评价指标模型，计算所述合成的缺陷生成数据的性能参数值；将...
该专利属于郑州大学所有，仅供学习研究参考，未经过郑州大学授权不得商用。

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