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本发明提供一种基于可解释深度模型的单谱分类谱学分析方法，包括：随机生成若干个负样本；将目标物的标准谱与生成的负样本进行加和，形成若干个正样本；对正样本和负样本逐一进行一阶导数运算，得到求导后的样本；将求导后的样本输入深度森林模型进行模型训练...
该专利属于厦门大学所有，仅供学习研究参考，未经过厦门大学授权不得商用。

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