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本发明公开了一种传感器标定方法，在生产时从批量传感器中取出部分样本传感器进行测试，获得包括第一测试参数值和第二参数值的样本数据对，对第一测试参数值进行平均处理后，将样本平均第一测试参数值，或相邻样本平均第一测试参数值的平均值构成的范围值赋予...
该专利属于上海移宇科技股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过上海移宇科技股份有限公司授权不得商用。

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