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一种新型的集成电路测试设备制造技术
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文档序号:37076476
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本实用新型公开了一种新型的集成电路测试设备,所述集成电路测试设备的线路板上设有MCU,所述MCU的管脚经过过压、限流接口保护电路、目标板电源泄放电路及目标板电源供给电路经目标板接口连接到目标板,所述过压、限流接口保护电路具体包括:对于每一条...
该专利属于彭增金所有,仅供学习研究参考,未经过彭增金授权不得商用。
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