温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。

本申请公开了一种国产元器件功能性能应用验证方法及系统，包括如下步骤：确定国产元器件的性能应用验证需求；根据所确定的性能应用验证需求确定验证试验指标及项目；基于确定的验证试验指标及项目搭建验证测试环境，并基于所搭建的验证测试环境对国产元器件进...
该专利属于中国电子科技集团公司第十五研究所所有，仅供学习研究参考，未经过中国电子科技集团公司第十五研究所授权不得商用。

详细技术文档下载地址

温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。