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预测负载指标的方法、装置、存储介质以及电子设备制造方法及图纸
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文档序号:36985529
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本申请公开了一种预测负载指标的方法、装置、存储介质以及电子设备。其中,该方法包括:获取处理器的第一预测数据,获取内存的第二预测数据;根据第一预测数据与第二预测数据判断处理器与内存是否处于异常区间,得到判断结果;获取判断结果以及历史时段内预定...
该专利属于中国电信股份有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过中国电信股份有限公司授权不得商用。
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