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本发明涉及一种光电探测系统及方法，具体涉及一种采用卷帘快门sCMOS传感器测量激光近场分布的系统及方法，解决现有激光近场分布测量中，采用科学级CCD进行测量时存在成本高的问题，以及采用sCMOS传感器进行测量时，难以实现待测激光短脉冲全曝光...
该专利属于中国科学院西安光学精密机械研究所所有，仅供学习研究参考，未经过中国科学院西安光学精密机械研究所授权不得商用。

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