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本发明公开了一种基于非负性约束稀疏自编码器的电子电路缺陷检测方法，包括：对电子电路图像采集、剪裁，图像数据增强及特征提取，确定缺陷数据集及缺陷类型。基于组的图模型及核规范的图像去噪方法对电子电路图像的去噪，通过优化学习策略来获得图像的拉普拉...
该专利属于淮阴工学院所有，仅供学习研究参考，未经过淮阴工学院授权不得商用。

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