下载涂布长度测量方法、装置、计算机设备以及存储介质的技术资料

文档序号:36937897

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本申请涉及一种涂布长度测量方法、装置、计算机设备、存储介质和计算机程序产品,测量区域为由两束同源激光相交照射下产生的条纹干涉区域,涂布在该测量区域内运动时由于涂布表面的微小结构颗粒结构将产生敏感交错的漫反射信号,基于该信号频率,确定涂布运动...
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