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本发明公开了一种半导体测试筛选设备，涉及半导体技术领域，半导体测试筛选设备，包括柜体和分筛斗，分筛斗固定于柜体顶部；分筛斗内部中心垂直转动连接有转轴，且转轴外部套入固定有轴套，轴套外壁左右侧均固定有分筛板，且左侧的分筛板前后面均嵌入有电磁板...
该专利属于苏州志仁和电子科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过苏州志仁和电子科技有限公司授权不得商用。

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