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本发明提供一种能够使用工业摄像头分析发光二极管的光点数量，从而准确地检测发光二极管的发光亮度的亮度检测方法。所述方法包括下列步骤：获取多个发光装置的多个基准图像；获得多个基准图像中每个基准图像中的基准光点数量；分别测量多个发光装置的亮度；根...
该专利属于和硕联合科技股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过和硕联合科技股份有限公司授权不得商用。

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